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1-3-06 MLK-F9-35T/100T开箱测试-pl_ddr测试

发布时间 2024-01-06 11:34:47作者: 米联客(milianke)

1.1 概述

本实验内容下载已经编译好的PL DDR测试bit 和ltx文件，对DDR测试

1.2 外设资源

1.3 配件准备

为确保本实验可以完成，需要使用以下配件，请确认你是否已经购买了相关配件。

物品

数量

标配/选配

实物图

是否使用

F9开发板

1

标配

是

电源

1

标配

是

JTAG下载线

1

标配

是

 

1.4 JTAG接线

JTAG接口不支持热插拔，不正确的JTAG安插方法容易导致硬件是损坏，这个原因主要是很多公司的电源地线没有接好，导致不同设备之间电源会有100V左右的压差，比如有时候你摸下机箱的铁壳，或者机箱内部的电子元件的表面，或者USB接口都可能被电一下。正确接法如下：

先把下载器的JTAG插入到开发板的JTAG接口

再把USB先插入下载器的USB接口和电脑的USB接口,这是由于USB支持热插拔，外壳就是GND，可以确保不会让信号之间存在巨大的压差导致JTAG接口损坏。

 

1.5 上电

电源开关切换到ON如下图所示：

1.6 使用VIVADO下载测试程序

首先通过JTAG扫描到芯片，JTAG的使用常见问题可以阅读米联客技术论坛"JTAG使用常见问题一文"https://www.uisrc.com/t-1692.html掌握FPGA JTAG的程序下载方法。

启动VIVADO软件

单击open hardware manager

扫描芯片

 

 

使用JTAG扫描到FPGA，选择FPGA型号，右击弹出菜单，Program Device

选择需要下载的文件路径

选择需要下载的.bit程序，如果有在线逻辑分析仪核，还会有一个.ltx的文件

 

之后单击Program

下载完成后如下图所示,双击hw_ila_1,之后单击运行，观看DDR读写过程

放大读数据看下数据是否正确

 

设置error触发信号

 

再次单击触发

如果没有错误，就永远不会触发