最后修改日期：2023/10/13
简介
在CMOS模拟版图中，常常用Guard Ring将若干个MOS管（一般来说，一个Gurad Ring内部的MOS管都是同型的，即都是PMOS/NMOS）包围起来，起到保护作用。在芯片layout设计时，在面积允许的情况下要多放置一些Guard Ring，以提高芯片的性能。
Guard Ring在layout中的形式
一般CMOS工艺的特点
在一般的CMOS工艺中，整个基底都是P型半导体，所以制作NMOS直接在基底上制作。而PMOS的基底是N型的，因此需要先在巨大的P型基底上先制作N阱（N Well），再在N阱中制作PMOS。
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Active Area就是会生成MOS的区域。AA与GT相交就构成一个MOS。但是实际上在工艺中AA代指什么还不确定，因为不确定工艺的隔离工艺是什么。我的推测是：MOS的硅区与上方的Metal之间总是有氧化层的，而AA位置对应的氧化层较薄，因此GT能对AA区的硅形成控制。这个做法类似于STI或者LOCOS工艺。
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Contact是接触孔，可以理解为连接Active Area和Metal 1，也即通过Contact可以控制一块Active Area的电平。
P Gurad Ring(PGR)
P Guard Ring用来保护NMOS器件。PGR本身由SP中的AA组成，CT是用来控制PGR的电平的（一般为VSS）。
N Gurad Ring(NGR)
又称Well Guard Ring，因为其由SN中的AA组成，而SN必须存在于NW中。CT作用同理，电平一般为VDD。
闩锁效应/可控硅效应/晶闸效应（Latch-up）
Guard Ring的一个重要作用就是抑制闩锁效应。
Layout中的闩锁模型
如上图展示了直接制作一对靠近的PMOS和NMOS的工艺截面。注意红色箭头，其依次经过了P+、N、P、N+区域，即可以简化为如下的模型：
而有另一类器件叫做BJT，其有三个端子，分别是：基极（b）、集电极（c）、发射极（e）。PNP管的ebc分别由P++、N、P+制作，而NPN管的ebc分别由N++、P、N+制作。类比BJT的结构