SoC scan implementation

发布时间 2024-01-08 15:07:03作者: Icer_Newer
  • scan chain产生之前需要进行scan drc的过程,判断cell是不是能够串到scan chain上去
  • mux-d scan cell(是最常用的scan cell),还有其他的scan cell
  • measure POs的动作,可以发生在capture PPOs之后吗?为什么?
    PIs,PPIs输入稳定之后,通常情况下先measure POs(PIs和PPIs共同作用的结果),先进行capture PPOs动作之后,相当于更改了PPI的值(PPI就是scan cell的q端,PPO就是scan cell的d端),scan cell d端数据发生变化,q端数据发生变化,PPIs会发生变化,POs会发生变化(PIs和capture PPOs之后新的PPIs共同作用的结果)
  • 详细分析为什么lockup cell能解决clock skew的问题?
    clock latency不同,clock到达register的时间是不同的,使用lockup cell可以保证时钟的行为,scan chain上前面的register时钟来的晚

How to consider scan in the project?

Pin Mux

  • function mode和dft mode下进行IO的复用,不同mode下,使用的pIO是不同的;
  • 芯片在同一时刻,只能工作在一个mode下
  • 考虑ATE基台的pin数量和SoC芯片的测试的pin数据量,进行scan
  • mode select IO/scan enable/scan clk/scan input




RTL - PinMux

Output IO


Input IO


Clock Structure